Przejdź do treści
Facebook LinkedIn
  • pl
    • en
    • pl
logo-elektronikaelektronika-logo
  • HOME
  • AKTUALNY NUMER
  • O NASRozwiń
    • REDAKCJA
    • CZASOPISMO
    • RADA NAUKOWA
    • DLA AUTORÓW
    • DLA RECENZENTÓW
    • ETYKA PUBLIKACJI
    • DO POBRANIA
  • ARCHIWUM
  • PRENUMERATA
  • REKLAMARozwiń
    • W CZASOPIŚMIE
    • ON-LINE
  • KONTAKT
Facebook Instagram
logo-elektronikaelektronika-logo

problem plecakowy

4/2025

WIARYGODNOŚĆ TESTÓW WYDAJNOŚCI W ZALEŻNOŚCI OD ZAKRESU UŻYTYCH LICZB

Publikując nowy algorytm/program autorzy często porównują ich działanie ze znanymi już wcześniej algorytmami/programami powołując się na wyniki uzyskane przy pomocy programów testujących wydajność, znanych pod nazwą angielską (również używaną w języku polskim) benchmark.

Dowiedz się więcej WIARYGODNOŚĆ TESTÓW WYDAJNOŚCI W ZALEŻNOŚCI OD ZAKRESU UŻYTYCH LICZBKontynuuj


INFORMACJA DLA AUTORÓW

Artykuły publikowane w Elektronice są rejestrowane w bazie danych CrossRef. Każdemu artkułowi przyznawany jest numer identyfikacyjny DOI (Digital Object Identifier). Autorzy artykułów publikowanych w Elektronice są proszeni do stosowania numerów DOI w wykazach literatury, wszędzie tam gdzie jest to możliwe.

osobisty-system-dowodzenia-i-obserwacji-u-gate


KONTAKT


Redakcja


Tel: +48 22 827 38 79
Email: elektronika@red.pl.pl

Wydawnictwo SIGMA-NOT Sp. z o.o.

Tel: +48 22 818 09 18
Tel: +48 22 818 98 32
Email: sekretariat@sigma-not.pl

Zakład Poligrafii i Kolportażu
Wydawnictwa SIGMA-NOT Sp. z o.o.

Tel: +48 22 833 40 69
Email: drukarnia@sigma-not.pl

elektronika-logo© 2025 Czasopismo Elektronika

  • HOME
  • AKTUALNY NUMER
  • O NAS
  • ARCHIWUM
  • PRENUMERATA
  • REKLAMA
  • KONTAKT
Facebook LinkedIn
Przewiń na górę
  • HOME
  • AKTUALNY NUMER
  • O NAS
    • REDAKCJA
    • CZASOPISMO
    • RADA NAUKOWA
    • DLA AUTORÓW
    • DLA RECENZENTÓW
    • ETYKA PUBLIKACJI
    • DO POBRANIA
  • ARCHIWUM
  • PRENUMERATA
  • REKLAMA
    • W CZASOPIŚMIE
    • ON-LINE
  • KONTAKT
Szukaj