Metody wykrywania centrów defektowych w materiałach półprzewodnikowych

Methods of detecting defect centers in semicondu ctor mater

nr katalogowy: 152205
10.15199/13.2024.12.6

Streszczenie
Występujące w materiale półprzewodnikowym centra defektowe i ich właściwości odgrywają znaczącą rolę w kształtowaniu właściwości i parametrów wykonanych z nich urządzeń elektronicznych. W artykule przedstawiono metody wykrywania centrów defektowych w materiałach półprzewodnikowych. Omówiono zasadę ich działania i jakiego rodzaju próbki są badane daną metodą.

Abstract
The defect centers and their properties in the semiconductor material play a significant role in shaping the properties and parameters of electronic devices made of them. The article presents methods for detecting defect centers in semiconductor materials. The principle of their operation and what types of samples are tested by a given method are discussed.

Karol Piwowarski
Patryk Tomczyk